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電子元器件行業(yè)晶振的一般知識(shí)和質(zhì)量控制

來(lái)源:http://www.southsidecondovip.com 作者:帝國(guó)科技 2012年06月29
 帝國(guó)科技知識(shí)共享電子元器件行業(yè)晶振的一般知識(shí)和質(zhì)量控制:
 
 1. 晶振的作用是產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào),晶體諧振器與其它器件共同組成晶體振蕩器。
 2.晶體諧振器,要達(dá)到穩(wěn)定性好,要求串聯(lián)諧振電阻既要小又要一致性好,同時(shí)激勵(lì)功率變化帶來(lái)的阻抗變量越小,晶體的諧振點(diǎn)容易一致,這樣外圍電路調(diào)試比較容易,使產(chǎn)品更穩(wěn)定,那么具體如何實(shí)現(xiàn)呢?第一,用Q值(Q值是等效電路中動(dòng)態(tài)臂諧振時(shí)的品質(zhì)因數(shù),振蕩電路所能獲得的最大穩(wěn)定性直接與電路中晶體的Q值相關(guān)。Q值越高,晶體帶寬越小,電抗值變化越陡,外部電抗對(duì)晶體影響越小)高的水晶材料,能降低串聯(lián)電阻,同時(shí)控制膠量的勻稱(chēng)性;第二,要求生產(chǎn)車(chē)間凈化程度很高,能減少本體之外的灰塵附著物帶來(lái)的干擾,降低阻抗變量;第三,成品測(cè)試將并聯(lián)諧振電阻和DLD值(功率改變引起的阻抗變量)控制在相對(duì)更小的范圍內(nèi)。
3.根據(jù)經(jīng)驗(yàn)及晶體本身的特性總結(jié)出:第一,在使用過(guò)程中,外圍匹配電容(包括雜散電容)愈接近晶體標(biāo)稱(chēng)電容,電路形成的振蕩頻率愈接近標(biāo)稱(chēng)頻率。電路的穩(wěn)定性由晶體本身和外圍電路共同決定,最佳電路應(yīng)讓工作頻率高與標(biāo)準(zhǔn)頻率8PPM左右,因?yàn)轭l率每年都要下降3PPM左右即年老化率,這樣才能保證電路中振蕩頻率在5年內(nèi)準(zhǔn)確度很高;第二,晶體在使用中還要具有一定的溫度穩(wěn)定性和抗震性及可焊性,如何實(shí)現(xiàn)?1)提高晶片加工精度,降低晶體封閉殼中氮?dú)獾穆饵c(diǎn),通過(guò)高低溫測(cè)試試驗(yàn);2)生產(chǎn)上,用優(yōu)質(zhì)膠,點(diǎn)勻和及時(shí)烤膠,檢查剔除有崩邊的晶片,通過(guò)跌落和機(jī)械振動(dòng)測(cè)試(100-20000G)試驗(yàn),提高包裝保護(hù);3)同時(shí)增加240±10℃和5S條件下的耐高溫測(cè)試。
4.晶體振蕩器分直插(DIP-14,DIP-8)和SMD貼片。直插式的一般為非三態(tài)線(xiàn)路,有需求可選三態(tài)規(guī)格,SMD式的為三態(tài)線(xiàn)路輸出。在使用中DIP系列1#角在無(wú)特殊說(shuō)明時(shí)為斷開(kāi)的,靜電對(duì)DIP破壞性較小。SMD系列1#角內(nèi)部相連,外接時(shí)需斷開(kāi),靜電對(duì)其破壞最大,容易擊穿IC,須作靜電保護(hù);另外,SMD系列晶振在焊接過(guò)程中不要溫度過(guò)高,時(shí)間過(guò)長(zhǎng),一般控制在260℃±5℃,少于5秒。還應(yīng)注意SMD晶振兩側(cè)有的會(huì)有DLD測(cè)試線(xiàn),焊接時(shí)不能與任意焊點(diǎn)相連。晶振在使用中電壓分5V,3.3V,1.8V等不能兼容,否則會(huì)不穩(wěn)定。
5.隨著石英晶振的被廣泛應(yīng)用到各種高端設(shè)備中,對(duì)其要求也越來(lái)越高,壓控晶體振蕩器(VCXO),溫補(bǔ)晶體振蕩器(TCXO)及恒溫晶體振蕩器(OCXO)的需求逐步上升。VCXO是可以利用電壓變化來(lái)調(diào)整輸出頻率。(VT-TCXO壓控溫補(bǔ)振蕩器)TCXO是包含一個(gè)溫度感應(yīng)電路,在溫度發(fā)生變化是調(diào)整輸出頻率,是輸出的頻率隨溫度變化的偏差降低了,從而使其在一定的溫度范圍內(nèi)保持較高的頻率穩(wěn)定度,一般精度要求在0-3PPM之內(nèi)的做成這種。OCXO具有更高的穩(wěn)定性,而且有更低的相位噪聲,精度更高,它是通過(guò)內(nèi)部的恒溫槽維持晶體溫度的穩(wěn)定。
晶振的檢驗(yàn)技術(shù)和質(zhì)量控制
(一)表晶,常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差是+/-20PPM,阻抗是30-40KΩ,但我們實(shí)際檢驗(yàn)控制為:Φ3*8分為A:±5PPM /15KΩ;B:±10PPM /15KΩ;C:±15PPM /18KΩ
     Φ2*6(32.768K)分為A:±5PPM /25KΩ;B:±10PPM /28KΩ;C:±15PPM /30KΩ
客戶(hù)可以根據(jù)需求選擇表晶,要求高的可以選擇誤差和阻抗小的,如A或B。
 (二)晶體諧振器:常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)是頻率+/-30PPM,加嚴(yán)控制為+/-20PPM阻抗因頻率不同而變,2007年以前:A表格,今天參數(shù)控制是B表格所顯示的:
A表格                                                                                          
49S晶體
49U晶體
頻率
阻值
頻率
阻值
3.579545M /4M
≤120Ω
1.8432M
≤500Ω
4.1M~5M
≤90Ω
2M
≤300Ω
5.1M~8M
≤60Ω
2.4576M
≤150Ω
8.1M~10M
≤50Ω
3M/3.2768M
≤120Ω
10.1M~12M
≤40Ω
3.579545M
≤90Ω
12.1M~30M
≤30Ω
4M
≤80Ω
30M以上
≤30Ω
4.1M~6M
≤60Ω
48M(泛音)
80-100
6.1M~7M
≤50Ω
 
 
8M~10M
≤40Ω
10.1M~20
≤30Ω
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 B表格
49S晶體
49U晶體
頻率
阻值
頻率
阻值
3.579545M
≤95Ω
1.8432M
≤300Ω
3.6864M
≤80Ω
2.097152M
≤200Ω
4.000M/4.032M
≤80Ω
3.072M
≤90Ω
4.096M
≤75Ω
3.200M
≤60Ω
4.433619M
≤70Ω
3.579545M
≤65Ω
4.8970M
≤65Ω
4M
≤40Ω
5.000M
≤60Ω
5.000MM
≤30Ω
5.350M
≤50Ω
6.000M
≤20Ω
6.000M
≤40Ω
6.144M
≤20Ω
6.9567M-10M
≤30Ω
10.000M
≤20Ω
10.6M
≤20Ω
11.0592M
≤15Ω
10.8M
≤25Ω
15.360M
≤12Ω
11.0592M
≤25Ω
18.432M
≤10Ω
12.000M-18.432M
≤15Ω
20.000M
≤10Ω
20.000M-24.576M
≤12Ω
 
 
25.000M-27.2M
≤10Ω
 
 
28.224M
≤11Ω
 
 
28.322M
≤12Ω
 
 
30.000M-36.864M
≤15Ω
 
 
37.998M
≤20Ω
 
 
38.897M
≤20Ω
 
 
48.000M
≤45Ω
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
此外,單單要嚴(yán)格要求這些參數(shù),還是不夠的,我們?cè)谄渌麉?shù)包括DLD值,Q值等等,對(duì)這些參數(shù)我們通過(guò)權(quán)威檢測(cè)儀器250B進(jìn)行檢測(cè)和控制,確保客戶(hù)可以用到質(zhì)量最好的晶體器件。
SMD系列不在一一列舉。
(三)石英體振蕩器:這種產(chǎn)品的在控制上我公司更是相當(dāng)?shù)膰?yán)格,對(duì)每一項(xiàng)參數(shù)都要求是最高的,所有產(chǎn)品參數(shù)我們都會(huì)用PRA1020測(cè)試儀器進(jìn)行測(cè)試控制。另外除了對(duì)行業(yè)參數(shù)所控制的范圍,進(jìn)行加嚴(yán)控制,我們還會(huì)進(jìn)一步增加更為全面的測(cè)試要求,比如一般的標(biāo)準(zhǔn)電壓是5V或是3.3V,除了要在標(biāo)準(zhǔn)電壓下保證誤差,參數(shù)正常,我們還會(huì)在上下限電壓進(jìn)行參數(shù)測(cè)試,5V晶振會(huì)測(cè)到4.5V和5.5V電壓下的頻率誤差,3.3V晶振會(huì)測(cè)到2.97V和3.63V電壓下的頻率誤差,同時(shí)控制其一致性,現(xiàn)場(chǎng)觀看測(cè)試過(guò)程及測(cè)試數(shù)據(jù)表。不同客戶(hù)不同要求,客戶(hù)可以直接觀看篩選過(guò)程。
另外,為了追求晶振的高穩(wěn)定性,我們對(duì)晶振還要進(jìn)行抗震性和溫度的電性能測(cè)試,在公司備有專(zhuān)業(yè)的高低溫沖擊測(cè)試箱,可以進(jìn)行冷熱溫度沖擊,測(cè)試晶振的耐溫能力;有抗沖擊實(shí)驗(yàn)設(shè)備—LD振動(dòng)臺(tái),對(duì)晶振的抗震性進(jìn)行試驗(yàn)測(cè)試。我們還將準(zhǔn)備增設(shè)帶電工作高低溫48小時(shí)老化控制設(shè)備。我們公司的宗旨就是把我們帝國(guó)的產(chǎn)品做到精益求精,實(shí)現(xiàn)滿(mǎn)足客戶(hù)的高質(zhì)量的要求,讓帝國(guó)晶振真正成為客戶(hù)首選。

     作者:帝國(guó)科技
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